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硬件在环测试

HiL试验台可通过jBEAM被控制和监视,其输入、输出信号可被实时监控且被可视化。

HiL(硬件在环)是单个或多个耦合的电器系统的测试,如控制设备或娱乐电子系统。系统的输入数据由特定的仿真模型产生,用来激励真实的系统环境。系统输出将于期望的输出作对比,并分析偏差。因为使用仿真模型和系统输出信号的自动评估,将大幅减少实际环境的测试数量,同时缩短电器系统的开发周期。

jBEAM可用于控制和监视HiL测试台架。电器系统的输入和输出信号可监视和可视化。进而可手动设置输入信号来开发特定的测试场合。

用户特别欣赏简单和清晰的用户界面,以及提供的丰富计算和分析方法,用于处理和可视化信号。此外,可自行开发jBEAM组件用于优化整个测试台架环境。对于娱乐信息系统,基于Java FX开发的一些可视的输入组件用于识别多触摸姿势,并转换成合适的输入信号。

HiL测试-信号监视
信号监视

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